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HAWKEYES ELITE 無基材薄膜外觀檢測設(shè)備
更新日期：2026-06-30
訪問量：35
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：日本
一、日本 TAKANO 高野 HAWKEYES ELITE 無基材薄膜外觀檢測設(shè)備 產(chǎn)品基礎(chǔ)信息
| 項目 | 詳情 |
|---|---|
| 品牌型號 | TAKANO 高野（日本） HAWKEYES ELITE |
| 產(chǎn)品定位 | 無基材柔性薄膜專用卷對卷在線外觀缺陷檢測設(shè)備 |
| 檢測基材 | 無基材光學(xué)薄膜、離型膜、透明膠膜、PI超薄膜、功能性涂布薄膜 |
| 可檢出缺陷 | 晶點、劃痕、氣泡、魚眼、臟點、涂布厚薄不均、壓傷、褶皺、漏涂、點狀異物 |
| 整機形態(tài) | 封閉式防塵工業(yè)機柜，集成低張力輸送、糾偏機構(gòu)、觸控操作屏、聲光報警燈 |
| 適配產(chǎn)線 | 卷對卷連續(xù)在線檢測，可對接現(xiàn)有涂布、分切、復(fù)卷流水線 |
二、核心硬件規(guī)格參數(shù)
| 參數(shù)項 | 標準規(guī)格 |
|---|---|
| 成像系統(tǒng) | 多通道高分辨率線掃工業(yè)相機，全幅面無盲區(qū)掃描 |
| 照明體系 | 多角度復(fù)合LED漫射光源，明暗場可切換，適配不同材質(zhì)薄膜 |
| 最小缺陷檢出能力 | ≥1μm尺寸表面缺陷 |
| 相機分辨率 | 5μm/pixel（可按需定制更高分辨率） |
| 適配卷材幅寬 | 100-2000mm（可按客戶需求定制） |
| 最大適配走料速度 | 100m/min（實時同步檢測，無節(jié)拍滯后） |
| 走料控制 | 低張力閉環(huán)控制系統(tǒng)，適配無基材超薄薄膜，避免拉伸變形 |
| 電源電壓 | AC200V/50Hz |
| 整機外形尺寸 | 4000(W)×1800(D)×2200(H) mm |
| 整機重量 | 2500kg |
三、日本 TAKANO 高野 HAWKEYES ELITE 無基材薄膜外觀檢測設(shè)備 產(chǎn)品核心性能優(yōu)勢
1. 專為無基材超薄薄膜優(yōu)化，適配性強
采用低張力閉環(huán)走料控制技術(shù)，解決無載體薄膜易拉伸、起皺、斷膜的行業(yè)難題，可穩(wěn)定完成超薄卷材不間斷連續(xù)檢測，適配各類柔性無基材薄膜的生產(chǎn)需求。
2. 微米級缺陷高靈敏度識別，檢測精度高
搭配多角度復(fù)合照明光路，可捕捉常規(guī)設(shè)備無法識別的弱對比度微小缺陷，包括1μm級晶點、細微劃痕、薄涂層不均，實現(xiàn)全幅面缺陷無漏檢，檢測結(jié)果穩(wěn)定可靠。
3. 原生適配卷對卷產(chǎn)線，集成改造成本低
整機為在線式結(jié)構(gòu)設(shè)計，可直接現(xiàn)有涂布、分切、復(fù)卷流水線，僅需少量改造即可嵌入自動化生產(chǎn)鏈路，無需重建產(chǎn)線，適配現(xiàn)有產(chǎn)線升級改造需求。
4. 全自動缺陷分類統(tǒng)計，數(shù)據(jù)化溯源
專用薄膜缺陷識別算法，可自動區(qū)分氣泡/晶點/劃痕/臟點等缺陷類型，標記缺陷坐標，生成整卷缺陷分布圖與統(tǒng)計報表，便于工藝改良與品質(zhì)追溯，檢測數(shù)據(jù)可直接對接產(chǎn)線MES系統(tǒng)。
5. 全封閉防塵機身，適配車間長期運行
光學(xué)模組內(nèi)置防塵結(jié)構(gòu)，整機采用封閉式工業(yè)機柜，可有效阻隔車間粉塵對成像精度的干擾，適合涂布車間、無塵車間24小時連續(xù)穩(wěn)定運行，降低設(shè)備維護頻次。
6. 定制化能力強，適配個性化需求
可根據(jù)客戶薄膜卷材幅寬、材質(zhì)、檢測需求，定制相機排布、光路方案、檢測算法，覆蓋中小幅寬至寬幅工業(yè)薄膜產(chǎn)線的全場景需求。
四、核心適用行業(yè)與場景
光學(xué)薄膜行業(yè)：無基材離型膜、超薄PI配向膜、光學(xué)透明膠膜涂布后全檢、成品終檢
鋰電材料行業(yè)：超薄無基材隔膜、功能性涂覆薄膜表面缺陷篩查、來料IQC檢測
膠粘制品行業(yè)：透明無載體膠膜、保護膜晶點、魚眼、漏涂、劃痕檢測
顯示配套材料：超薄OC保護層、柔性基板薄膜外觀質(zhì)檢、制程工藝驗證
薄膜加工廠商：復(fù)卷、分切工序在線缺陷檢測、不良段自動標記與剔除
